2018年9月28日，由中國計量測試學(xué)會組織的中國計量科學(xué)研究院 “電學(xué)量子基標準核心芯片研制”科技成果鑒定會圓滿結(jié)束。
      此次鑒定會在中國計量科學(xué)研究院進行。清華大學(xué)的金國藩院士、北京東方計量測試研究所的黃曉釘研究員、黑龍江省計量檢定測試院的曹曙光研究員、清華大學(xué)的陳煒教授、湖南省計量檢測研究院的李慶先研究員、航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術(shù)研究所的朱巖教授、北京化工大學(xué)的王學(xué)偉研究員作為鑒定專家參與了該項目的鑒定工作。    
      鑒定會由金國藩院士主持。在鑒定會上，鑒定委員會聽取了李勁勁研究員所作的技術(shù)總結(jié)報告、應(yīng)用和查新報告、測試組黃曉釘組長作的測試報告。同時，審查了相關(guān)資料，并進行了現(xiàn)場考察。隨后，鑒定專家與課題組成員開展了熱烈地質(zhì)詢討論。
       
      經(jīng)過全體評審專家認真評審，一致認為： 該項目成果整體達到國際先進水平。